Просвечивающая электронная микроскопия гетеронаноструктур
Руководитель
Характер работы
Экспериментальный.
Описание
В работе предлагается принять участие в развитии различных методик исследования многослойных наноструктур методами просвечивающей электронной микроскопии. Во-первых, работа будет заключаться в отработке методов подготовки сверхтонких поперечных срезов многослойных плёнок на различных подложках и планарных образцов на кремнии. Во-вторых, возможно принять участие в измерениях методами лоренцевой микроскопии для исследования планарных образцов в виде сплошных плёнок с перпендикулярной магнитной анизотропией и паттеринированных магнитных наноструктур.
Контакты
ИФМ РАН к. 122, т. +7 905 6601966, tatarsky@ipmras.ru
